LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий
- Бессонов А. С.
- Мошкин В. В.
- Папуловский В. Ф.
Not available
Summary
Данная книга содержит практикум по основам измерительных технологий. Работы охватывают основы метрологии и измерительной техники, вопросы обработки и представления результатов измерений и методы и средства электрических измерений. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике.
Catalogue record
Батоврин В. К
LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий / Бессонов А. С; Мошкин В. В; Папуловский В. Ф. — Москва : , 2005. — 207 с. ISBN 594074267X
Батоврин В. К. LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий / Бессонов А. С; Мошкин В. В; Папуловский В. Ф. — Москва : , 2005. — 207 с.
All fields
- ISBN
- 594074267X
- Place of publication
- Москва
- Year published
- 2005
- Extent
- 207 с
- GRNTI
- 45.01
- Document type
- 3
- Language
- Russian
Keywords
Reviews and ratings
Sign in and leave a review.
No reviews yet.