LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий
- Бессонов А. С.
- Мошкин В. В.
- Папуловский В. Ф.
Нет в наличии
Аннотация
Данная книга содержит практикум по основам измерительных технологий. Работы охватывают основы метрологии и измерительной техники, вопросы обработки и представления результатов измерений и методы и средства электрических измерений. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике.
Библиографическая запись
Батоврин В. К
LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий / Бессонов А. С; Мошкин В. В; Папуловский В. Ф. — Москва : , 2005. — 207 с. ISBN 594074267X
Батоврин В. К. LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий / Бессонов А. С; Мошкин В. В; Папуловский В. Ф. — Москва : , 2005. — 207 с.
Все поля
- ISBN
- 594074267X
- Место издания
- Москва
- Год издания
- 2005
- Объём
- 207 с
- ГРНТИ
- 45.01
- Тип документа
- 3
- Язык
- Русский
Ключевые слова
Отзывы и оценки
Войдите и оставьте отзыв.
Отзывов пока нет.